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Nanometrics NanoSpec 8000XSE Thickness Measure

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Nanometrics NanoSpec 8000XSE Thickness Measure

商家设备

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Metrology

类型

1997年

年份

8

晶片尺寸

基本信息

型号：8000XES
类型：Metrology
年份：1997年
晶片尺寸：8
设备数量：1
销售状态：已出售

设备描述

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